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日本SANVAC RIE 反应离子刻蚀装置
产品型号:
产品简介:

品牌:SANVAC(日本),设备类型:RIE 反应离子刻蚀装置,用于半导体薄膜干法刻蚀、光刻胶灰化处理

详细介绍

SANVAC RIE 反应离子刻蚀装置

项目 参数
极限真空 5.0×10⁻⁴Pa 以下(常温空载清洁腔体)
真空腔体 φ400mm×210mmH,SUS316 不锈钢,上盖开启式
阴极电极 φ150mm 底部导入式阴极
电极间距 20‑60mm 连续可调
工艺气体 CF₄、CHF₃、SF₆、O₂等;支持氧化膜、氮化膜、多晶硅刻蚀、O₂光刻胶灰化
加工能力 硅基薄膜、绝缘介质膜干法刻蚀、等离子去胶灰化


产品特点

  1. SUS316 耐腐蚀不锈钢腔体,耐氟类腐蚀性工艺气体,腔体不易腐蚀污染,保障工艺洁净度。
  2. 电极间距 20‑60mm 可调,可灵活调整等离子场,适配不同刻蚀工艺需求。
  3. 一机双功能:既可以完成 SiO₂、Si₃N₄、多晶硅干法刻蚀,也支持 O₂等离子光刻胶灰化去胶,设备利用率高。
  4. 平行板 RIE 结构,工艺稳定性好,设备结构简洁,维护拆解方便。
  5. 可兼容多种蚀刻工艺气体,工艺窗口宽,适配实验室、小批量研发产线。


对比优势

  1. 腔体采用 SUS316 材质,相比普通铝材腔体,抗腐蚀性更强,处理含氟气体时腔体寿命更长,颗粒污染更低。
  2. 电极间距大范围可调,不用更换电极组件,仅参数调整即可切换各向异性 / 各向同性刻蚀,工艺适配灵活。
  3. 集成刻蚀 + 光刻胶灰化,无需额外配置独立等离子灰化机,降低设备采购成本。
  4. 日系真空系统配套成熟,极限真空指标**,腔体本底杂质少,适合半导体、MEMS 研发小批量加工。
  5. 设备结构简约,故障率低,适合高校实验室、科研院所、中小半导体研发产线使用。


运用场景

  1. 半导体研发:多晶硅、氧化硅 SiO₂、氮化硅 Si₃N₄薄膜干法反应离子刻蚀。
  2. MEMS 器件研发试样加工,微型结构等离子干法蚀刻。
  3. 光刻胶灰化去除,O₂等离子剥离光刻胶、表面等离子清洗。
  4. 高校、科研院所微纳加工实验室,失效分析样品刻蚀处理。
  5. 光电、传感器元件薄膜刻蚀加工。