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MKS 626D01TDE 电容薄膜真空计
产品型号:
产品简介:

MKS 品牌常温型**式电容真空压力计,1Torr 量程,8VCR 接口,属于半导体、精密真空工艺的标杆级压力测量元件,行业内认可度高,**工艺设备选型高度依赖该品牌,用于腔体高精度**压力监测与闭环控制。

详细介绍

MKS 626D01TDE 电容薄膜真空计

产品定位

MKS 626D01TDE 属于 Baratron® 系列非加热型**电容压力计,满量程 1Torr,KF16 接口,是**工艺级真空压力测量变送器。面向半导体、镀膜、科研实验室等高要求工况,属于行业标杆级真空测量器件,在精密真空工艺领域具备极强品牌依赖性,替代门槛高,用于对压力测量精度、重复性、耐腐蚀性有严苛要求的真空腔体,实现不受气体组分影响的**压力监测,适配自动化设备集成,是工艺良率保障的核心测量部件。

核心技术和原理

采用电容薄膜(Baratron)传感技术,传感器内部 Inconel 镍基合金隔膜将工艺侧与内部高真空参考腔隔开。当腔体压力发生变化,隔膜产生微小形变,隔膜与后方固定电极间距改变,引起电容值发生变化;**信号调理电路将电容变化转化为 0‑10VDC 线性模拟输出信号,15 针 D‑Sub 接口输出;内部 getter 维持参考腔超高真空,实现**压力测量,测量结果与气体种类、气体成分无关,不受气体热传导特性干扰,内置温度补偿电路降低环境温度漂移带来的测量误差。

产品优势与特点

  • 测量精度高,读数精度可达 0.25%,分辨率可达满量程 0.001%,测量重复性优异,迟滞小,响应速度<20ms。
  • 镍基 Inconel 合金湿区材质,耐腐蚀性强,可适配腐蚀性工艺气体,双层焊接结构,**性高,可承受 45psia 过压,抗系统意外冲击。
  • 气体无关测量,无论工艺气体成分,输出真实压力,非常适合半导体特种工艺气体环境MKS。
  • 长期输出稳定性好,零点漂移低,降低频繁校准频次,提升产线稼动率。
  • KF16 标准真空法兰,安装方向不受限制,±15VDC 供电,0‑10VDC 标准模拟输出,方便对接工控、MKS 控制器、采集系统。
  • 非加热型,无需预热,0‑50℃环境工作,RoHS 合规,适配设备 OEM 集成与实验室搭建。

主要应用场景

  • 半导体行业:刻蚀设备、CVD 化学气相沉积、PVD 物**相沉积、ALD 工艺腔体压力监测,芯片制造、晶圆处理真空压力闭环监控。
  • 镀膜设备:光学镀膜、光伏镀膜、薄膜沉积设备真空腔压力测控。
  • 科研实验室:材料科研真空腔体、气体激光器、真空实验平台、高校研究院真空系统。
  • 精细化工:真空蒸馏、腐蚀性介质真空工艺、特种气体处理系统。
  • 新能源行业:电池材料真空制备、光伏器件真空工艺。
  • 工业重工:真空炉、真空热处理、冻干设备、工业真空成套装备压力检测。
  • 光学行业:光学器件真空镀膜、光学元件制备真空测控。