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MKS 626D02TDE 电容薄膜真空计
产品型号:
产品简介:

MKS 品牌常温型**式电容真空压力计,1Torr 量程,8VCR 接口,属于半导体、精密真空工艺的标杆级压力测量元件,行业内认可度高,**工艺设备选型高度依赖该品牌,用于腔体高精度**压力监测与闭环控制。

详细介绍

MKS 626D02TDE 电容薄膜真空计

产品定位

MKS 626D02TDE 属于 Baratron 系列常温型**压力电容薄膜规,量程 2Torr,KF16 接口,面向中高真空精密压力测量场景,是半导体、镀膜、科研实验室领域主流真空测量元器件,适配腐蚀工艺气体工况,多用于设备原厂配套、产线备件替换、科研真空系统搭建,行业内用户选型时对该品牌该系列具备较高的选用倾向。

核心技术和原理

采用电容式薄膜传感结构,工艺介质接触部位为 Inconel 镍基合金膜片,膜片受压发生形变,改变膜片与内部固定电极之间的电容数值;信号调理电路采集电容变化,转换输出 0‑10VDC 线性模拟电压信号,完成**压力换算读取。测量结果不受被测气体种类干扰,无需加热,常温环境工作,搭配 15‑pin D‑Sub 电气接口输出信号,可对接数显仪表、压力控制器、设备工控系统。

产品优势与特点

1、镍基合金传感膜片,耐受多种腐蚀性工艺气体,适配半导体制程特种气体环境;

2、压力读数与气体组分无关,不同工艺气体下测量表现稳定;

3、响应速度快,响应时长小于 20ms,适合动态真空工艺监测;

4、具备较高分辨率,重复性表现良好,迟滞表现低,保障工艺参数一致性;

5、KF16 标准真空接口,安装方向不受限制,集成适配便捷;

6、0‑10VDC 标准模拟输出,可兼容市面多数真空控制采集设备;

7、双层焊接壳体结构,可承受较高过压冲击,工况耐受能力强;

8、无需预热,上电即可投入测量,降低系统等待时间;

9、RoHS 合规,适配工业设备出口相关规范要求。

主要应用场景

半导体芯片制造:CVD、PVD 薄膜沉积、干法刻蚀设备腔体压力监测; 光伏光学行业:光学镀膜、太阳能电池镀膜真空腔体压力检测; 科研实验室:真空实验平台、分析仪器、真空炉压力采集; 精细化工:真空蒸馏、冻干设备、特种化工真空工艺压力监控; 工业重工:真空热处理炉、检漏系统、各类工业真空装备; 新能源:电池材料制备真空设备、功率器件工艺腔体; MEMS 微纳加工、先进封装设备真空压力测控。