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SANKO三高 电磁涡流两用膜厚计
产品型号:Pro-W(机械指针式,免电源)
产品简介:

SANKO 三高(日本三高)在半导体行业的产品主要涵盖精密测量仪器、测试探针、高纯流体输送部件三大类,广泛用于晶圆 / PCB 检测、封装测试与制程配套

详细介绍

一、精密膜厚计与检测仪器

用于半导体晶圆、PCB 及封装镀层的厚度 / 缺陷检测。
SANKO 三高的膜厚计与检测仪器,按原理分为电磁 / 涡流两用、超声波、电解式、湿膜、针孔 / 金属探测、盐度 / 湿度检测六大类

一、电磁 / 涡流两用膜厚计(无损,金属基材)

1)SWT-9000 系列(9000/9100/9200/9300)

  • 测量方式:电磁(Fe)/ 涡流(NFe)自动识别(FN-325 探头)
  • 量程(依探头):
    • Fe-2.5:0~2.5mm(铁基)
    • NFe-2.0:0~2.0mm(非铁基)
    • Fe-20:0~20mm(厚涂层)
  • 分辨率:1μm(0~999μm);0.01mm(1~2.5mm)
  • 精度:±1μm 或 ±2%(取大值)
  • 存储:9000 无;9100/9200/9300 20,000 点
  • 接口:USB(9100+);无线(9300)
  • 尺寸 / 重量:72×30×156mm,约 210g

2)SWT-NEO 系列(NEO II / NEO III)

  • 测量方式:电磁 / 涡流双探头兼容
  • 量程:铁基 0~3.0mm;非铁基 0~2.5mm
  • 分辨率:0.1μm(0~400μm);1μm(0~999μm);0.01mm(1~3mm)
  • 精度:0~100μm:±1μm 或 ±2%;>100μm:±2%
  • 存储:NEO II:20,000 点;NEO III:40,000 点
  • 接口:USB;NEO III 低功耗无线
  • 尺寸 / 重量:72×30×156mm,约 200g(含电池)

3)SAMAC-FN / SAMAC-Pro

  • 测量方式:电磁 / 涡流两用,自动基材识别
  • 量程:铁基 0~2.5mm;非铁基 0~2.0mm
  • 分辨率:0.1μm(0~400μm);1μm(0~999μm);0.01mm(1~2.5mm)
  • 精度:0~100μm:±1μm 或 ±2%;>100μm:±2%
  • 存储:Pro:20,000 点;10 组校准曲线
  • 尺寸 / 重量:125g(迷你型)

3)SAMAC-FN / SAMAC-Pro

  • 测量方式:电磁 / 涡流两用,自动基材识别
  • 量程:铁基 0~2.5mm;非铁基 0~2.0mm
  • 分辨率:0.1μm(0~400μm);1μm(0~999μm);0.01mm(1~2.5mm)
  • 精度:0~100μm:±1μm 或 ±2%;>100μm:±2%
  • 存储:Pro:20,000 点;10 组校准曲线
  • 尺寸 / 重量:125g(迷你型)

4)SL-200E(台式高精度)

  • 测量方式:电磁 / 涡流双探头,自动设置
  • 量程:0~50μm / 0~500μm(两档);可扩展至 10mm
  • 分辨率:0.01μm;曲面补偿
  • 精度:±1μm 或 读数 ±1%
  • 特点:实验室级,配分析软件,报告生成

5)SP-3300D(丝网印刷专用)

  • 测量方式:电磁式
  • 量程:0~300μm(可定制至 500μm)
  • 分辨率:1μm
  • 特点:扁平探头,3 点接触恒压,适合未干弹性材料

6)Pro-W(机械指针式,免电源)

  • 测量方式:电磁式(纯机械)
  • 量程:0~500μm / 0.2~5mm(双刻度)
  • 精度:±2μm 或 指示值 ±5%(均匀表面)
  • 特点:无电源,户外 / 高危环境适用

7)EDY-1000 / EDY-II(涡电流专用)

  • 测量方式:涡电流(非铁基材绝缘膜)
  • 量程:0~900μm;EDY-II 可至 3mm
  • 分辨率:1μm;0.1μm(可选)
  • 精度:±1μm 或 指示值 ±3%
  • 应用:铝 / 铜阳极氧化膜、电镀镍、绝缘涂层

8)SME-1(基础型两用)

  • 测量方式:电磁(Fe)/ 涡流(NFe)
  • 量程:电磁 0~900μm~3mm;涡流 0~900μm
  • 分辨率:1μm(0~900μm);0.01mm(1~3mm)
  • 精度:±1μm 或 指示值 ±3%